延迟故障的测试向量集的生成方法

摘要

本发明公开了一种延迟故障的测试向量集的生成方法，涉及集成电路可测性设计领域。所述方法包括步骤：根据两帧电路模型统计实物电路中每个触发器的后继集合和前驱集合；根据所述后继集合，将所述触发器进行分组，按组构造以扫描输入端为根节点的扫描树；所述扫描树中每个分支中的触发器构成一个扫描段，根据所述前驱集合，将所述扫描段通过异或门网络连接到扫描输出端；分阶段对所述扫描输入端进行分组连接，通过ATPG工具生成测试向量集。所述方法，通过对触发器进行分组，以及分阶段生成测试向量集的方式，显著减小了最终的测试向量集，减少了测试数据量。

主权项

一种延迟故障的测试向量集的生成方法，其特征在于，包括步骤：A：输入实物电路的网表文件，构建两帧电路模型；B：根据两帧电路模型统计实物电路中每个触发器的后继集合和前驱集合；C：根据所述后继集合，将所述触发器进行分组，按组构造以扫描输入端为根节点的扫描树；D：所述扫描树中每个分支中的触发器构成一个扫描段，根据所述前驱集合，将所述扫描段通过异或门网络连接到扫描输出端；E：分阶段对所述扫描输入端进行分组连接，通过ATPG工具生成测试向量集；所述步骤A具体包括步骤：A1：输入实物电路的网表文件；A2：根据所述实物电路得到第一复制电路和第二复制电路，切断所述第一复制电路和第二复制电路的触发器；A3：将所述第一复制电路中触发器的输入连接所述第二复制电路中相应触发器的输出，以构建所述两帧电路模型；所述步骤B具体包括步骤：B1：对所述第一复制电路的输入PI，计算其可以到达的所述第二复制电路的输出PO的集合R（PI），计算所述第二复制电路中与所述输入PI对应的信号线PI'可以到达的所述第二复制电路的输出PO的集合R（PI'）；B2：所述集合R（PI）与集合R（PI'）的并集构成所述输入PI对应的触发器的后继集合DR(PI)；B3：对所述第二复制电路的输出PO，计算可以到达所述输出PO的所述第一复制电路的输入PI的集合I（PO），所述第一复制电路中 与所述输出PO对应的信号线记为PO'，计算可以到达所述PO'的所述第一复制电路的输入PI的集合I（PO'）；B4：所述集合I（PO）与所述集合I（PO'）的并集构成所述输出PO对应的触发器的前驱集合DI（PO）；所述步骤C具体包括步骤：C1：将所述实物电路中每个触发器分为g个触发器组，每个触发器组中的任意两个触发器的后继集合没有交集；C2：按照所述触发器组构造以扫描输入端为根节点的扫描树；所述步骤C2具体包括步骤：C21：判断触发器组的个数g是否大于扫描输入端的个数n，如果大于，执行步骤C22，否则，执行步骤C26；C22：任意选择n个触发器组，按组分别连接到每个扫描输入端，构成所述扫描树的第一层，每个扫描输入端只连接一个触发器组中的触发器；C23：判断g减去n的差值是否大于n，如果大于，执行步骤C24，否则，执行步骤C25；C24：从剩余的触发器组中任意选择n个触发器组，按组分别连接到所述扫描树中上一层的触发器，修改g的值为g减去n的差值，执行所述步骤C23；这里每个剩余的触发器组可以任意对应一个扫描树，但是只能对应一个扫描树，一个触发器组中的触发器只能连接到其所对应的扫描树的上一层的触发器上，多个触发器可以连接上一层中的同一个触发器；C25：将剩余的触发器组，按组分别连接到所述扫描树中上一层的触发器，结束所述步骤C2；C26：任意选择g个扫描输入端，将g个触发器组按组分别连接到每个扫描输入端；所述步骤D具体包括步骤：D1：所述扫描树中每个分支中的触发器构成一个扫描段，两个扫描段中处于所述扫描树中同一层的两个触发器构成触发器对；D2：将满足条件的扫描段通过异或门连接；所述条件是指：互相连接的扫描段中的任意两个扫描段的任一触发器对中的两个不同触发器的前驱集合没有交集；D3：将末端的异或门连接扫描输出端；所述步骤E具体包括步骤：E1：将每4个扫描输入端一组连接在一起，通过ATPG工具为可测延迟故障生成第一测试向量集，判断是否存在不可测延迟故障，如果存在，执行步骤E2，否则将所述第一测试向量集做为最终测试向量集，退出执行；E2：将每两个扫描输入端一组连接在一起，通过ATPG工具为可测延迟故障生成第二测试向量集，判断是否存在不可测延迟故障，如果存在，执行步骤E3，否则，将所述第一测试向量集与所述第二测试向量集的并集做为最终测试向量集，退出执行；E3：将每个扫描输入端做为一组，通过ATPG工具为可测延迟故障生成第三测试向量集，将所述第一测试向量集、第二测试向量集和第三测试向量集的并集做为最终测试向量集，退出执行。