发明名称 |
一种测试架 |
摘要 |
本发明公开了一种测试架,包括测试架本体,所述测试架本体内设有空腔,该空腔内安装陪试板,该测试架本体上端设有待测区,在待测区内安装有待测试板,所述待测试板的上方设有可上下活动的测试顶板,测试顶板上有若干顶针,测试顶板具有下移过程和上移过程,下移过程中顶针与待测板接触,进行测试,上移过程中顶针与待测试板分离,中止测试。本发明能够实现自动化测试,可降低测试人员的工作量,并且系统的测试过程简便。 |
申请公布号 |
CN103149391A |
申请公布日期 |
2013.06.12 |
申请号 |
CN201310073389.8 |
申请日期 |
2013.03.07 |
申请人 |
广州三晶电气有限公司 |
发明人 |
黄桥新;石顺才;卢雪明;罗松平 |
分类号 |
G01R1/04(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/04(2006.01)I |
代理机构 |
广州市华学知识产权代理有限公司 44245 |
代理人 |
黄磊 |
主权项 |
一种测试架,包括测试架本体,其特征在于,所述测试架本体内设有空腔,该空腔内安装陪试板,该测试架本体上端设有待测区,在待测区内安装有待测试板,所述待测试板的上方设有可上下活动的测试顶板,测试顶板上有若干顶针,测试顶板具有下移过程和上移过程,下移过程中顶针与待测板接触,进行测试,上移过程顶针与待测试板分离,中止测试。 |
地址 |
510663 广东省广州市高新技术开发区科学城香山路17号 |