发明名称 一种离子注入工艺的监测方法
摘要 一种离子注入工艺的监测方法,通过在裸晶上先制作一层外延层,利用外延层电阻比较稳定的特性进行离子注入工艺的监测,从而获得该离子注入工艺在裸晶上的注入状态,保证了监测结果的准确性和稳定性,以及半导体制程的流畅性,节省了监测成本。
申请公布号 CN103151281A 申请公布日期 2013.06.12
申请号 CN201110403817.X 申请日期 2011.12.07
申请人 无锡华润上华科技有限公司 发明人 阳厚国;张伟
分类号 H01L21/66(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 常亮;李辰
主权项 一种离子注入工艺监测方法,该监测方法使用一监测晶圆作为监测样本,对一确定参数的离子注入工艺进行监测,其特征在于,包括步骤:以所述监测晶圆为衬底,制作一外延层;在所述外延层上进行离子注入工艺,离子注入的深度小于该外延层厚度;测量所述经离子注入之后的外延层方块电阻;根据上述外延层方块电阻,计算离子在该外延层中的注入状态;根据外延层与衬底的一换算关系,得出该次离子注入工艺相对该监测晶圆的离子注入状态。
地址 214028 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区新洲路8号
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