发明名称 三维形状测量装置及测量方法
摘要 本发明公开一种可以提高测量精度的三维形状测量装置及测量方法。三维形状测量装置包含:投影部,产生并照射光栅图案光;X-Y轴移动工作台,移动测量对象;光束分离部,分离光栅图像或者照明图像并使其透过;第一圆型照明部,其产生的光照射到测量对象,以使测量对象反射照明图像;多个反射镜,沿着圆周方向相隔设置,当被测量对象反射的光栅图像或者照明图像照射所述多个反射镜时,对其进行反射;第二圆型照明部,其产生的光照射到测量对象,以使测量对象反射照明图像;多个成像部,拍摄从光束分离部和多个反射镜照射的光栅图像或者照明图像;控制部,接收所述多个成像部拍摄的光栅图像或者照明图像,以计算测量对象的三维形状。
申请公布号 CN103134446A 申请公布日期 2013.06.05
申请号 CN201310002349.4 申请日期 2009.02.25
申请人 株式会社高永科技 发明人 李承埈;高光一;全文荣;尹相圭;金弘珉;许浈
分类号 G01B11/25(2006.01)I 主分类号 G01B11/25(2006.01)I
代理机构 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人 金光军;李柱天
主权项 一种三维形状测量装置,其特征在于,包括:投影部,产生并照射光栅图案光;X‑Y轴移动工作台,设置于所述投影部的下侧,移动测量对象;光束分离部,设置于所述投影部和所述X‑Y轴移动工作台之间,分离光栅图像或者照明图像并使其透过;第一圆型照明部,设置于所述光束分离部的下侧,其产生的光照射到测量对象,以使测量对象反射照明图像;多个反射镜,在所述光束分离部的下侧,沿着圆周方向相隔设置,当被测量对象反射的光栅图像或者照明图像照射所述多个反射镜时,对其进行反射;第二圆型照明部,设置于所述多个反射镜的下侧,其产生的光照射到测量对象,以使测量对象反射照明图像;多个成像部,分别设置于所述光束分离部和所述多个反射镜的一侧,拍摄从光束分离部和多个反射镜照射的光栅图像或者照明图像;控制部,接收所述多个成像部拍摄的光栅图像或者照明图像,以计算测量对象的三维形状。
地址 韩国首尔