| 摘要 |
<p>EL 표시 장치의 표시 결함을 그 원인에 따라서 양호한 정밀도로 검출한다. EL 소자에 공급하는 구동 전류를 제어하기 위한 소자 구동 트랜지스터 Tr2를 그 선형 영역에서 동작시켜서, EL 소자를 발광 레벨로 한 때의 발광 휘도 또는 캐소드 전류에 기초함으로써, EL 소자의 단락에 기인한 멸점 결함을 검출한다. 소자 구동 트랜지스터 Tr2를 그 포화 영역에서 동작시켜서 EL 소자를 발광 레벨로 한 때의 캐소드 전류로부터 소자 구동 트랜지스터 Tr2의 특성 변동에 기인한 암점 결함을 검출할 수 있고, 발광 휘도로부터 이상 표시 화소를 검출하는 경우, 이상 표시 화소 중 멸점 검사 시에 멸점 결함으로 판정되어 있지 않은 화소를 구하고, 이 화소를 소자 구동 트랜지스터 Tr2의 특성 변동에 기인한 암점 결함을 검출한다.</p> |
