| 摘要 |
<p>칩 내장형의 정속 로직-BIST를 이용하여, 칩 내부의 로직 게이트로 매크로의 인터페이스 및 로직 블록의 자동 오류 테스트를 실행하는 시스템 및 방법이 제시된다. 내부 스토리지 소자들의 초기화에 이어, 한 세트의 테스트 신호가 발생되어 로직 블록에 의해 처리된다. 이 로직 블록의 출력을 한개의 시그너처로 누적시키고, 이를 기준 시그너처와 비교하여 오류를 검출한다. 테스트는 간단한 테스트 벡터를 이용하여 ATE(자동 테스트 장비) 상에서 실행될 수도 있고, 칩을 포함하는 실제 보드에 대해 현장 엔지니어에 의해 실행될 수도 있다.</p> |
