发明名称 校准方法和设备
摘要 校准方法和设备。一种方法和设备,适合用于校准测试探头和示波器系统,特点在于:基本上把探头的负载影响从测量中除去。
申请公布号 CN1673768B 申请公布日期 2013.05.29
申请号 CN200510069714.9 申请日期 2005.02.25
申请人 特克特朗尼克公司 发明人 J·J·皮克尔德;K·谭;W·A·哈格鲁普;R·P·安德森;S·M·麦克马斯特斯
分类号 G01R35/00(2006.01)I;G01R13/02(2006.01)I 主分类号 G01R35/00(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 程天正;王忠忠
主权项 一种适合于与测试探头一起使用的设备,所述测试探头具有与其相关联的阻抗和传递特性,所述设备包括:存储器,用于存储与所述探头的阻抗和传递特性相关联的传递参数;和可控阻抗器件,被安置在所述探头和被测装置之间,所述可控阻抗器件具有多个可选阻抗负载,每个可选阻抗负载都具有在所述存储器中存储的相关联的传递参数,用于对所述被测装置上的所述多个可选阻抗负载中的可选阻抗负载进行转换,以及控制器,用于响应于控制信号而适配所述存储的传递参数;其中所述控制器配置成经由具有多个可选阻抗负载的可控阻抗器件,从被测装置DUT(120)获得被测信号SUT在时域中的多个采样;对所述多个可选阻抗负载中的每个所选校准负载,使用快速傅立叶变换将时域中的被测信号SUT的多个采样转换为频谱域表示;根据多个可选阻抗负载的每个所选校准负载的频谱域表示来表征被测装置(120)在频谱域内的传递参数;以及根据所表征的传递参数来计算均衡滤波器,所述均衡滤波器适合于补偿由对被测装置DUT的测量引起的所述被测装置DUT(120)的负载。
地址 美国俄勒冈州