发明名称 Nondestructive infrared thermography system and inspection method using chemical heating
摘要 <p>본 발명은 화학적 발열을 이용한 적외선 열화상 비파괴 검사시스템 및 방법에 대한 것이다. 보다 상세하게는, 시험체의 표면에 발열입자를 분사하기 위한 발열입자 분사부; 발열입자가 분사된 시험체에 발열입자를 반응시켜 발열입자에서 화학적 발명을 유도하는 유도체를 분사시키기 위한 유도체 분사부; 시험체에 나타난 온도분포를 촬상하여 시험체의 결합을 검출해 내는 적외선 열화상 카메라; 적외선 열화상 카메라 중 적어도 하나를 제어하는 제어부; 및 제어부와 연결되어 비파괴 검사 프로그램을 실행시키는 분석수단을 포함하여 발열입자는 발열입자 분사부에 의해 시험체 표면에 형성되어진 결함부에 채워져 결함부에 발생되는 화학적 발열을 이용하여 시험체의 전체 온도분포를 적외선 열화상 카메라가 촬상하여 결함부를 검출하는 것을 특징으로 하는 화학적 발열을 이용한 적외선 열화상 비파괴 검사 시스템에 관한 것이다.</p>
申请公布号 KR101267822(B1) 申请公布日期 2013.05.27
申请号 KR20110072862 申请日期 2011.07.22
申请人 发明人
分类号 G01N25/72;G01N21/35;G01N21/75 主分类号 G01N25/72
代理机构 代理人
主权项
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