发明名称 | 集成电路及其测试方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种集成电路,包括,一测试垫单元、一存储单元阵列、一第一切换单元、一边界扫描单元、一第二切换单元。测试垫单元在一测试模式下,传送一第一测试信息、第二测试信息或是一测试结果。存储单元阵列储存第一测试信息。第一切换单元在测试模式下,根据一第一使能信号,将第一测试信息传送给存储单元阵列,或根据一读取信号,将存储单元阵列所储存的一数据作为测试结果,传送至测试垫单元。边界扫描单元将第二测试信息转换成一扫描信息。第二切换单元在测试模式下,根据一第二使能信号,传送扫描信息给测试垫单元。 | ||
申请公布号 | CN103116123A | 申请公布日期 | 2013.05.22 |
申请号 | CN201110365803.3 | 申请日期 | 2011.11.17 |
申请人 | 华邦电子股份有限公司 | 发明人 | 林树森 |
分类号 | G01R31/3181(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/3181(2006.01)I |
代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 任默闻 |
主权项 | 一种集成电路,其特征在于,包括:一测试垫单元,在一测试模式下,传送一第一测试信息、第二测试信息或是一测试结果,在一正常模式下,传送一存取信息;一存储单元阵列,用以储存所述第一测试信息或是所述存取信息;一第一切换单元,在所述测试模式下,根据一第一使能信号,将所述第一测试信息传送给所述存储单元阵列,或根据一读取信号,将所述存储单元阵列所储存的一数据作为所述测试结果,传送至所述测试垫单元;一边界扫描单元,将所述第二测试信息转换成一扫描信息;以及一第二切换单元,耦接所述第一切换单元,在所述测试模式下,根据一第二使能信号,传送所述扫描信息给所述测试垫单元。 | ||
地址 | 中国台湾台中市 |