Sockel-Einrichtung zur Verwendung beim Test von Halbleiter-Bauelementen, sowie Vorrichtung und Verfahren zum Beladen einer Sockel-Einrichtung mit einem entsprechenden Halbleiter-Bauelement,申请号DE2003159648-传众专利搜索

发明名称	Sockel-Einrichtung zur Verwendung beim Test von Halbleiter-Bauelementen, sowie Vorrichtung und Verfahren zum Beladen einer Sockel-Einrichtung mit einem entsprechenden Halbleiter-Bauelement
摘要
申请公布号	DE10359648(B4)	申请公布日期	2013.05.16
申请号	DE2003159648	申请日期	2003.12.18
申请人	QIMONDA AG	发明人	HOPPE, HOLGER
分类号	G01R31/28;G01R1/04;G11C29/00;G11C29/56	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
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