发明名称 Sondenanordnung, Verfahren zu ihrer Herstellung und elektrische Verbindungsvorrichtung
摘要 Sondenanordnung (18) zur Verwendung bei einer elektrischen Messung eines Bauelements in Prüfung (26), umfassend eine plattenartige Sondengrundplatte (18a) mit einer in einem freien unbelasteten Zustand erzeugten Biegeverformung, sowie eine Mehrzahl von Sonden (18b), die in einer Seite der Sondengrundplatte (18a) ausgebildet sind, um aus der Seite überzustehen, wobei sämtliche der Sondenspitzen auf derselben Ebene positioniert sind, die zu einer gedachten Bezugsebene (P) der Sondengrundplatte (18a) mit der aufrechterhaltenen Verformung parallel ist; wobei auf der anderen Seite der Sondengrundplatte (18a) eine Mehrzahl von Ankerteilen (66) mit Innengewindeöffnungen (64) ausgebildet ist, wobei die Innengewindeöffnungen (64) jeweils Enden von einer Mehrzahl von Außengewindeelementen (52) zur Befestigung der Sondengrundplatte (18a) an vorbestimmten Positionen aufweisen.
申请公布号 DE112005003580(B4) 申请公布日期 2013.05.16
申请号 DE20051103580T 申请日期 2005.05.23
申请人 KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS 发明人 MIURA, KIYOTOSHI;KIYOFUJI, HIDEHIRO;MIYAGI, YUJI;KUNIYOSHI, SHINJI;SATO, HITOSHI
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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