发明名称 测试装置以及测试方法
摘要 一种测试装置,对被测试元件进行测试且包括:上位定序器,执行用以对被测试元件进行测试的测试程式,并依序指定与被测试元件之间进行通讯的各封包;封包资料行记忆部,记忆多种封包的各个中所包含的资料行;以及下位定序器,自封包资料行记忆部读出由上位定序器所指定的封包的资料行,并生成与被测试元件之间的测试中所使用的测试资料行。
申请公布号 TWI396411 申请公布日期 2013.05.11
申请号 TW098141940 申请日期 2009.12.08
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 碁石优;中山浩康;津藤胜
分类号 H04L12/56;H04L12/26 主分类号 H04L12/56
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本