| 发明名称 | 存储器测试系统及存储器测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种存储器测试系统及存储器测试方法。其中，该存储器测试系统包括：控制器，用于生成测试向量，通过总线将所述测试向量发送给多个存储器测试装置；所述多个存储器测试装置，用于根据所述测试向量对各自对应的待测试的存储器分别进行测试，并将各自对应的测试结果发送给所述控制器。通过本发明实施例，避免了现有技术中针对每一个存储器都设计相应的内建自测电路，因此节省了对存储器进行测试所需的控制逻辑电路和制作该控制逻辑电路所占用的芯片面积，进一步降低硬件成本。 | ||
| 申请公布号 | CN103093829A | 申请公布日期 | 2013.05.08 |
| 申请号 | CN201110332054.4 | 申请日期 | 2011.10.27 |
| 申请人 | 迈实电子（上海）有限公司 | 发明人 | 张卫华;喻梅 |
| 分类号 | G11C29/12(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/12(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人 | 刘新宇 |
| 主权项 | 一种存储器测试系统，其特征在于，包括：控制器，用于生成测试向量，通过总线将所述测试向量发送给多个存储器测试装置；以及所述多个存储器测试装置，用于根据所述测试向量对各自对应的待测试的存储器分别进行测试，并将各自对应的测试结果发送给所述控制器。 | ||
| 地址 | 430074 湖北省武汉市珞瑜路716号华乐商务中心806室 | ||