发明名称 |
ZnO基稀磁半导体薄膜及其制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种ZnO基稀磁半导体薄膜及其制备方法。方法一以分析纯的金属硝酸盐为原材料,通过水溶液共沉淀法得到掺杂的ZnO粉体,然后采用固相法烧结得到陶瓷靶材,再通过脉冲激光沉积法(PLD)制备成掺杂的稀磁半导体ZnO薄膜,或者同样以分析纯的金属硝酸盐为原材料,通过溶胶凝胶法,经过配制溶胶——甩胶——热处理的工艺流程,制备成掺杂的ZnO基稀磁半导体薄膜。如此制备的ZnO基薄膜的禁带宽度可以由Mg和Cd的掺杂进行调控,进而调控其铁磁性。掺Co或Mn的ZnO基稀磁薄膜掺入Cd可以使带隙减小,薄膜的室温饱和磁化强度增大,而共掺Mg可以使带隙增大,薄膜室温饱和磁化强度减小。 |
申请公布号 |
CN103074576A |
申请公布日期 |
2013.05.01 |
申请号 |
CN201310044088.2 |
申请日期 |
2013.02.04 |
申请人 |
清华大学 |
发明人 |
林元华;张玉骏;罗屹东;南策文 |
分类号 |
C23C14/08(2006.01)I;C23C14/28(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/08(2006.01)I |
代理机构 |
北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 |
代理人 |
关畅 |
主权项 |
一种ZnO基稀磁半导体薄膜,其组成为Zn0.9M0.05R0.05O或Zn0.95M0.05O;其中,M为Co或Mn,R为Mg或Cd。 |
地址 |
100084 北京市海淀区北京市100084信箱82分箱清华大学专利办公室 |