发明名称 ZnO基稀磁半导体薄膜及其制备方法
摘要 本发明公开了一种ZnO基稀磁半导体薄膜及其制备方法。方法一以分析纯的金属硝酸盐为原材料,通过水溶液共沉淀法得到掺杂的ZnO粉体,然后采用固相法烧结得到陶瓷靶材,再通过脉冲激光沉积法(PLD)制备成掺杂的稀磁半导体ZnO薄膜,或者同样以分析纯的金属硝酸盐为原材料,通过溶胶凝胶法,经过配制溶胶——甩胶——热处理的工艺流程,制备成掺杂的ZnO基稀磁半导体薄膜。如此制备的ZnO基薄膜的禁带宽度可以由Mg和Cd的掺杂进行调控,进而调控其铁磁性。掺Co或Mn的ZnO基稀磁薄膜掺入Cd可以使带隙减小,薄膜的室温饱和磁化强度增大,而共掺Mg可以使带隙增大,薄膜室温饱和磁化强度减小。
申请公布号 CN103074576A 申请公布日期 2013.05.01
申请号 CN201310044088.2 申请日期 2013.02.04
申请人 清华大学 发明人 林元华;张玉骏;罗屹东;南策文
分类号 C23C14/08(2006.01)I;C23C14/28(2006.01)I 主分类号 C23C14/08(2006.01)I
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人 关畅
主权项 一种ZnO基稀磁半导体薄膜,其组成为Zn0.9M0.05R0.05O或Zn0.95M0.05O;其中,M为Co或Mn,R为Mg或Cd。
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