表面贴装微波器件自动测试系统

摘要

本发明公开了一种表面贴装微波器件自动测试系统，它包括微控制器MCU、单端-差分信号转换电路和矢量网络分析仪；微控制器MCU的单端TTL电压信号输出端与单端-差分信号转换电路连接，单端-差分信号转换电路的差分电压信号输出端与被测表面贴装微波器件连接，被测表面贴装微波器件的射频输入端与射频输出端分别与矢量网络分析仪相连。本发明由单端-差分信号转换电路将直流稳压电源输出的单端TTL电压信号转换为差分电压信号，通过微控制器MCU来控制差分信号的通断，通过矢量网络分析仪实现对微波器件性能的测试，大大提高了微波器件的测试效率，可适用于批量生产及批量测试，而且测试结果准确度高；结构简单，设计和搭建成本低。

主权项

表面贴装微波器件自动测试系统，其特征在于：它包括用于控制单端‑差分信号转换电路中多个通道通断的微控制器MCU，用于将来自微控制器MCU的多个通道的单端TTL电压信号转换为互补的差分电压信号的单端‑差分信号转换电路，和用于测量待测表面贴装微波器件各项技术参数的矢量网络分析仪；微控制器MCU的单端TTL电压信号输出端与单端‑差分信号转换电路的输入端连接，单端‑差分信号转换电路的差分电压信号输出端与被测表面贴装微波器件的控制信号输入端连接，被测表面贴装微波器件的射频输入端与射频输出端分别与矢量网络分析仪相连。