发明名称 |
一种电容失配检测电路及方法 |
摘要 |
本发明公开了一种电容失配检测电路及方法,用于实现串联的第一电容和第二电容的失配特性的测量和数字化。电容失配检测电路包括线性放大器,用于将所述第一电容与所述第二电容之间的电压信号线性放大;压控振荡器,用于将所述线性放大器放大后的电压信号线性转换成频率信号;计数器,由频率信号及其基准时钟频率信号之比得到计数值,并根据计数值及特征计数值获得第一电容和第二电容的电容失配特性;其中,特征计数值为第一电容和第二电容的电容值完全相等时,两者间的电压信号最终转换成的计数值。 |
申请公布号 |
CN103063949A |
申请公布日期 |
2013.04.24 |
申请号 |
CN201210550527.2 |
申请日期 |
2012.12.18 |
申请人 |
上海集成电路研发中心有限公司 |
发明人 |
胡少坚 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 |
代理人 |
吴世华;林彦之 |
主权项 |
一种电容失配检测电路,用于检测串联的第一电容和第二电容的失配特性,其特征在于,所述电容失配检测电路包括:线性放大器,其输入端连接于所述第一电容和所述第二电容之间,用于将所述第一电容与所述第二电容之间的电压信号线性放大;压控振荡器,与所述线性放大器相连,用于将所述线性放大器放大后的电压信号线性转换成频率信号;计数器,与所述压控振荡器相连,所述计数器接收所述频率信号及基准时钟频率信号,由所述频率信号及其基准时钟频率信号之比得到计数值,并根据所述计数值及特征计数值获得所述第一电容和所述第二电容的电容失配特性;其中,所述特征计数值为所述第一电容和所述第二电容的电容值完全相等时,两者之间的电压信号经所述线性放大器线性放大,所述压控振荡器转换为频率信号,并经所述计数器转换成的计数值。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高斯路497号 |