发明名称 测试头移动装置及电子元件测试装置
摘要 测试头移动装置(10)包括:使测试头(100)升降的升降臂(15);使测试头(100)在水平方向移动之框架(11);连扣机构(20),其依据测试头(100)的高度,禁止框架(11)的水平移动,连扣机构(20)具有检测出测试头(100)正位于最下限之事实的限制开关(23)、以及使按压单元(50)和地面抵接的制动器(30)。
申请公布号 TWI393891 申请公布日期 2013.04.21
申请号 TW098121110 申请日期 2009.06.24
申请人 阿德潘铁斯特股份有限公司 日本 发明人 矢野刚之
分类号 G01R1/14;G01R31/26 主分类号 G01R1/14
代理机构 代理人 洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项
地址 日本