发明名称 测试装置
摘要 本发明之测试装置包括:多个测试端子P1,…可输入自DUT200输出的多个资料Do1…。多个多工器MUX1…接收输入至多个测试端子P1…中的多个资料Do1…,并选择任一者后加以输出。多个逻辑比较器CMP1…对应多个多工器MUX1…而设置,并判断由对应的多工器MUX…所选择的资料与其期望值是否一致。
申请公布号 TWI394169 申请公布日期 2013.04.21
申请号 TW097143412 申请日期 2008.11.10
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 长谷川崇
分类号 G11C29/08 主分类号 G11C29/08
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本