发明名称 非晶硅薄膜的晶化及多晶硅薄膜的制造方法和装置
摘要 一种非晶硅薄膜的晶化以及多晶硅薄膜的制造方法和装置,用高能量密度的电子束作用到非晶硅薄膜上,控制电子束加速阳极电压和束流,使非晶硅融化层与玻璃基板保持极高的温度梯度,当电子束截止后,非晶硅熔化层逐渐冷却,并晶化。该装置主要包括:电子光学系统、计算机控制系统、工件室及置于工件室内的工件控制台。阴极置于负高压,非晶硅接地,电子束逐行扫描,电子束扫描的后一行与前一行的重复率可以达到99%以上,扫完一场后,截止电子束,移动工件控制台,然后再扫描下一场,如此反复。工件室可以是真空室也可以处于大气状态或一定气氛中。若在大气或惰性气体环境下,工件室与电子光学系统间有电子束引出窗。
申请公布号 CN101894747B 申请公布日期 2013.04.17
申请号 CN201010212584.0 申请日期 2010.06.29
申请人 深圳丹邦投资集团有限公司 发明人 刘萍
分类号 H01L21/263(2006.01)I;H01L21/00(2006.01)I 主分类号 H01L21/263(2006.01)I
代理机构 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人 江耀纯
主权项 一种非晶硅薄膜的晶化方法,其特征是:所述非晶硅薄膜事先沉积于玻璃基板上,利用电子束作用到非晶硅薄膜上,使电子束的能量加热非晶硅薄膜,使非晶硅薄膜温度升高、融化;当电子束截止后,非晶硅薄膜的融化层逐渐冷却,并晶化;在晶化过程中采用电子束扫描的方式,电子束逐行扫描,电子束扫描的后一行与前一行的重叠达到99%以上,所述电子束穿透非晶硅薄膜所需的能量由下式给出:D=(46/ρ)E1.75,其中ρ为非晶硅密度,单位为g/cm3,非晶硅薄膜厚度D的单位为nm,E是入射电子束的能量,单位为KeV,电子束诱导晶化的阳极高压在500V到50KV之间,电子束的能量密度在100mJ/cm2‑500mJ/cm2之间,电子束束流的照射时间为3‑6分钟,由此确定的电子束束流和照射时间满足晶化730×920mm2的玻璃基板只需要3‑6分钟的时间。
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