发明名称 即时压印程序缺陷诊断技术
摘要 在一压印微影制程中缺陷及/或微粒可在该受图案化层中提供排除区域及/或过渡区域。该受图案化层中的排除区域及/或过渡区域可遭识别以提供一模板上的一感兴趣区域。
申请公布号 TWI392578 申请公布日期 2013.04.11
申请号 TW098106147 申请日期 2009.02.26
申请人 分子压模公司 美国;德州大学董事会 美国 发明人 史瑞尼瓦森 思盖塔V;辛哈耳 萧恩;崔炳镇
分类号 B29C59/02;B81C1/00;B29K101/00 主分类号 B29C59/02
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项
地址 美国
您可能感兴趣的专利