发明名称 |
即时压印程序缺陷诊断技术 |
摘要 |
在一压印微影制程中缺陷及/或微粒可在该受图案化层中提供排除区域及/或过渡区域。该受图案化层中的排除区域及/或过渡区域可遭识别以提供一模板上的一感兴趣区域。 |
申请公布号 |
TWI392578 |
申请公布日期 |
2013.04.11 |
申请号 |
TW098106147 |
申请日期 |
2009.02.26 |
申请人 |
分子压模公司 美国;德州大学董事会 美国 |
发明人 |
史瑞尼瓦森 思盖塔V;辛哈耳 萧恩;崔炳镇 |
分类号 |
B29C59/02;B81C1/00;B29K101/00 |
主分类号 |
B29C59/02 |
代理机构 |
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代理人 |
恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼 |
主权项 |
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地址 |
美国 |