发明名称 | 用于测定半导体开关的温度的方法和设备 | ||
摘要 | 本申请涉及一种用于测定半导体开关的温度的方法和设备,其中该半导体开关(1)具有集成的栅极电阻(RGint),该方法具有如下方法步骤:-通过经与半导体开关(1)的栅极电阻端子(GA)连接的外部电阻(Rext)提高半导体开关(1)的栅极-发射极电压(UGE)来接通半导体开关(1),-测定在提高半导体开关(1)的栅极-发射极电压(UGE)期间栅极-发射极电压(UGE)从第一电压(U1)上升到第二电压(U2)需要的持续时间(dt),以及-借助所测定的持续时间(dt)来测定半导体开关(1)的温度(T)。此外,本发明涉及一种用于测定半导体开关(1)的温度(T)的相关设备。本发明使高动态地测定半导体开关(1)的温度成为可能。 | ||
申请公布号 | CN103033275A | 申请公布日期 | 2013.04.10 |
申请号 | CN201210376118.5 | 申请日期 | 2012.09.29 |
申请人 | 赛米控电子股份有限公司 | 发明人 | 斯特凡·斯库勒 |
分类号 | G01K7/01(2006.01)I | 主分类号 | G01K7/01(2006.01)I |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人 | 杨靖;车文 |
主权项 | 用于测定半导体开关(1)的温度(T)的方法,该半导体开关具有集成的栅极电阻(RGint),该方法具有如下方法步骤:‑通过经与所述半导体开关(1)的栅极电阻端子(GA)连接的外部电阻(Rext)提高所述半导体开关(1)的栅极‑发射极电压(UGE)来接通所述半导体开关(1),‑测定在提高所述半导体开关(1)的栅极‑发射极电压(UGE)期间所述栅极‑发射极电压(UGE)从第一电压(U1)上升到第二电压(U2)需要的持续时间(dt),以及‑借助所测定的持续时间(dt)来测定所述半导体开关(1)的温度(T)。 | ||
地址 | 德国纽伦堡 |