发明名称 |
基于SFS算法的土壤孔隙度检测方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于SFS算法的土壤孔隙度检测方法。包括以下步骤:S1:获取待测土壤显微图像,并记录光照入射角度;S2:从所述待测土壤显微图像中选取M行N列个采样像素点,其中,M、N均为大于1的整数,根据所述光照入射角度,利用SFS算法得到各采样像素点高度值;S3:对所述各采样像素点高度值进行平滑处理;S4:对所述各采样像素点高度值进行高度校正;S5:计算得出待测土壤的孔隙度。本发明的土壤孔隙度的检测方法,通过恢复土壤表面三维结构来计算土壤孔隙度,比其他方法更加快速而准确。而且可以大幅缩短相关研究的试验周期,提高相关研究结果的准确率。 |
申请公布号 |
CN103033456A |
申请公布日期 |
2013.04.10 |
申请号 |
CN201210541544.X |
申请日期 |
2012.12.13 |
申请人 |
北京农业信息技术研究中心 |
发明人 |
温维亮;郭新宇;王虓;王传宇;吴升 |
分类号 |
G01N15/08(2006.01)I |
主分类号 |
G01N15/08(2006.01)I |
代理机构 |
北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
代理人 |
王莹 |
主权项 |
一种基于SFS算法的土壤孔隙度检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:获取待测土壤显微图像,并记录光照入射角度;S2:从所述待测土壤显微图像中选取M行N列个采样像素点,其中,M、N均为大于1的整数,根据所述光照入射角度,利用SFS算法得到各采样像素点高度值;S3:对所述各采样像素点高度值进行平滑处理;S4:对所述各采样像素点高度值进行高度校正;S5:计算得出待测土壤的孔隙度。 |
地址 |
100097 北京市海淀区曙光花园中路11号农科大厦A座318 |