发明名称 |
一种薄样掠射X射线荧光光谱分析系统 |
摘要 |
一种薄样掠射X射线荧光光谱分析系统,包括至少一个X射线源,用于发射初次X射线;布置在X射线源和试样之间的束调节单元,该束调节单元将X射线源发出的初次X射线滤波为单色光,并整形成条状;用于放置试样的样品载体,样品载体是光学平坦的,样品载体处于束调节单元出射的X射线的光路上,样品载体的平面与X射线的夹角为一掠射角;至少一个X射线探测器,布置在样品载体的法线方向,接收由试样产生的荧光X射线;以及控制单元和记录单元。本实用新型所提供的XRF光谱分析系统使用单色条状X射线束,以掠射的方式照射的试样上,穿透试样进入样品载体的X射线非常少,可以有效的减少基底效应,提高系统的分辨率,降低检出限。 |
申请公布号 |
CN202870005U |
申请公布日期 |
2013.04.10 |
申请号 |
CN201220270630.7 |
申请日期 |
2012.06.09 |
申请人 |
深圳市华测检测技术股份有限公司 |
发明人 |
董宁;刘攀超;戴煦;陈君;骆成 |
分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种薄样掠射X射线荧光(XRF)光谱分析系统,其特征在于,该系统包括: 至少一个X射线源,用于发射初次X射线; 布置在X射线源和试样之间的束调节单元,该束调节单元将X射线源发出的初次X射线滤波为单色光,并整形成条状; 用于放置试样的样品载体,样品载体是光学平坦的,样品载体处于束调节单元出射的X射线的光路上,样品载体的平面与X射线的夹角为一掠射角; 至少一个X射线探测器,布置在样品载体的法线方向,接收由试样产生的荧光X射线; 以及控制单元和记录单元。 |
地址 |
518057 广东省深圳市宝安区70区鸿威工业园C栋 |