发明名称 |
液晶显示器 |
摘要 |
在一个实施例中,液晶显示器组件(150)包括液晶模块(170)、包括发光二极管(162、164、168)阵列的背光组件(160)、检测至少一个发光二极管的光学输出的检测器(156)、以及耦合到检测器(156)的控制器(152),其中,控制器(152)包括在存储单元中记录在第一时间点来自检测器(156)的用于发光二极管(162、164、168)阵列中的多个发光二极管(162、164、168)的第一输出值、测量在第二时间点来自检测器(156)的用于发光二极管(162、164、168)阵列中的多个发光二极管(162、164、168)的第二输出值、并基于所述第一输出值与所述第二输出值之间的关系来调整到所述多个发光二极管(162、164、168)的至少一个输入值的逻辑。 |
申请公布号 |
CN101779156B |
申请公布日期 |
2013.04.03 |
申请号 |
CN200880101373.0 |
申请日期 |
2008.07.03 |
申请人 |
惠普开发有限公司 |
发明人 |
M·巴特沃思 |
分类号 |
G02F1/1333(2006.01)I;G02F1/1335(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/1333(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
王岳;王洪斌 |
主权项 |
一种液晶显示器组件(150),包括:液晶模块(170);背光组件(160),包括发光二极管(162、164、168)阵列;检测器(156),检测至少一个发光二极管的光学输出;以及控制器(152),耦合到所述检测器(156),其中,控制器(152)包括用于以下各项的逻辑:在存储单元中记录在第一时间点来自检测器(156)的、用于发光二极管(162、164、168)阵列中的多个发光二极管(162、164、168)的第一输出值;测量在第二时间点来自检测器(156)的、用于发光二极管(162、164、168)阵列中的多个发光二极管(162、164、168)的第二输出值;确定在第一时间点来自检测器(156)的第一输出值与在第二时间点来自检测器(156)的第二输出值之间的差;以及如果所确定的差超过阈值,则基于所述第一输出值与所述第二输出值的比来调整至少一个发光二极管的至少一个输入值,其中,控制器(152)还包括逐个地激活发光二极管(162、164、168)阵列中的每个发光二极管的逻辑。 |
地址 |
美国德克萨斯州 |