发明名称 | 精度管理系统 | ||
摘要 | 在临床检查室中,根据自动分析装置的运用状况或追加检查项目等,装置的污浊程度有可能始终变化,存在按照现有的间隔实施的校准无法充分维持装置性能的风险。另一方面,精度管理结果根据开封后的试剂性能而变动,因此,试剂的补充或污染导致试剂性能变化,对此,以预定间隔的校准存在无法随机应变地校准试剂的风险。提供一种精度管理方法,其根据精度管理画面以及校准结果的变动模式,对最佳的校准方法和校准间隔发出警告。 | ||
申请公布号 | CN103026237A | 申请公布日期 | 2013.04.03 |
申请号 | CN201180035824.7 | 申请日期 | 2011.06.30 |
申请人 | 株式会社日立高新技术 | 发明人 | 李晴;西田正治 |
分类号 | G01N35/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N35/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 许静;曹鑫 |
主权项 | 一种精度管理系统,其特征在于,具有:存储机构,其存储精度结果和校准结果的组合的变动模式;比较机构,其比较在该存储机构中存储的变动模式和所测定的变动模式;以及提示单元,其根据该比较机构的比较结果,提示最佳的校准间隔。 | ||
地址 | 日本东京都 |