发明名称 晶圆级封装构造及其制造方法
摘要 一种晶圆级封装构造及其制造方法,所述晶圆级封装构造包含:一支撑层;一芯片,设于所述支撑层上,并具有一有源表面,所述有源表面背对所述支撑层且设有数个焊垫,每一所述焊垫上设有一增厚金属物;一绝缘层,设于所述芯片与所述支撑层上,并具有数个盲孔,所述盲孔分别对应及裸露所述焊垫位置上的所述增厚金属物;以及一重布线层,设于所述绝缘层上,并通过所述盲孔与所述芯片的焊垫电性连接。所述增厚金属物可相对减少盲孔深度,降低绝缘层钻孔难度。
申请公布号 CN103021984A 申请公布日期 2013.04.03
申请号 CN201310001318.7 申请日期 2013.01.04
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 李志成
分类号 H01L23/485(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I 主分类号 H01L23/485(2006.01)I
代理机构 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人 翟羽
主权项 一种晶圆级封装构造,其特征在于,包含有:一支撑层;一芯片,设于所述支撑层上,并具有一有源表面,所述有源表面背对所述支撑层且设有一钝化层与数个焊垫,所述焊垫裸露出所述钝化层外,每一所述焊垫上设有一增厚金属物,所述增厚金属物为一电镀成形的金属层或金属柱状凸块;一绝缘层,设于所述芯片与所述支撑层上,并具有数个盲孔,所述盲孔分别对应及裸露所述焊垫位置上的所述增厚金属物;以及一重布线层,设于所述绝缘层上,并通过所述盲孔与所述芯片的焊垫电性连接。
地址 中国台湾高雄巿楠梓加工区经三路26号