发明名称 一种高储能密度的铁电膜材料及其制备方法
摘要 本发明公开了一种高储能密度的铁电膜材料及其制备方法,所述膜材料包括膜和基片,所述膜的组成为xBi(Ni1/2Ti1/2)O3-(1-x)PbTiO3,其中0.1≤x≤0.55,该膜以Bi(Ni1/2Ti1/2)O3和PbTiO3陶瓷为基体材料,所述膜的介电常数εr为400-900,低介电损耗为2-4%,储能密度为20-50 J/cm3。该膜材料采用在镀铂硅片上沉积形成结构致密、成分均匀的铁电薄膜。该膜材料具有优良的介电、铁电性能,高击穿场强和高储能密度,相比目前实际应用的电容器的储能密度高出一个数量级,在高温高功率器件中有很大的潜在应用前景,可以作为高功率大容量电容器开发和应用的关键材料。
申请公布号 CN102992757A 申请公布日期 2013.03.27
申请号 CN201210473633.5 申请日期 2012.11.20
申请人 清华大学 发明人 岳振星;谢镇坤;彭斌
分类号 C04B35/472(2006.01)I;C04B35/475(2006.01)I;C04B35/622(2006.01)I 主分类号 C04B35/472(2006.01)I
代理机构 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人 薄观玖
主权项 一种高储能密度的铁电膜材料,包括膜和基片,所述膜的组成为xBi(Ni1/2Ti1/2)O3‑(1‑x)PbTiO3,其中0.1≤x≤0.55,其特征在于,该膜以Bi(Ni1/2Ti1/2)O3和PbTiO3陶瓷为基体材料,所述膜的介电常数εr为400‑900,低介电损耗为2‑4%,储能密度为20‑50 J/cm3。
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