发明名称 接触孔的刻蚀方法
摘要 本发明公开了一种接触孔的刻蚀方法:对层间介质层进行第一步主刻蚀,将刻蚀进行到氮化层的上方时停止;对所述层间介质层进行第二步主刻蚀,以层间介质层下的氮化层作为刻蚀终止层;所述第一步主刻蚀采用的源功率为1500~3000瓦;偏置功率为2000~4000瓦;氩气的流量为500~1500sccm;所述第二步主刻蚀采用的源功率为500~2000瓦;偏置功率为500~2000瓦;氦气的流量为100~1000sccm。本发明还公开了采用上述方法形成的接触孔。本发明形成的接触孔,增加了接触孔金属空隙填充能力,提高了接触孔Rc均匀性,减少了CT open缺陷,减少了接触孔和栅极结构相连通而短路的可能。
申请公布号 CN102097359B 申请公布日期 2013.03.27
申请号 CN200910201057.7 申请日期 2009.12.10
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 发明人 王新鹏;张海洋
分类号 H01L21/768(2006.01)I;H01L21/311(2006.01)I;H01L23/52(2006.01)I 主分类号 H01L21/768(2006.01)I
代理机构 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人 牛峥;王丽琴
主权项 一种接触孔的刻蚀方法,所述刻蚀在刻蚀反应腔内进行,该方法包括:在层间介质层表面依次涂布底部抗反射层和光阻胶层,对所述光阻胶层进行曝光显影,定义接触孔的位置,然后以曝光显影后的光阻胶层为掩膜,对其下的底部抗反射层进行刻蚀;以曝光显影后的光阻胶层和底部抗反射层为掩膜,对所述层间介质层进行第一步主刻蚀,将刻蚀进行到氮化层的上方时停止;所述第一步主刻蚀气体包括四氟化碳;对所述层间介质层进行第二步主刻蚀,以层间介质层下的氮化层作为刻蚀终止层;所述第二步主刻蚀气体包括碳元素和氟元素的比例大于1:4的气体;所述光阻胶层以及底部抗反射层的灰化;去除接触孔底面剩余的氮化层,以显露出下面的金属硅化物层;其特征在于,所述第一步主刻蚀采用的源功率为1500~3000瓦;偏置功率为2000~4000瓦;稀释气体氩气的流量为500~1500标准立方厘米每分钟sccm;所述第二步主刻蚀采用的源功率为500~2000瓦;偏置功率为500~2000瓦;稀释气体氦气的流量为100~1000sccm。
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