| 发明名称 | 微粒测量装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种微粒测量装置。该微粒测量装置包括：检测单元，被配置为检测从微粒发出的光，以及处理单元，具有存储指令的存储器件，所述指令在由所述处理单元执行时，使所述处理单元计算所检测的光的校正强度值并基于校正强度值生成光谱数据。 | ||
| 申请公布号 | CN102998240A | 申请公布日期 | 2013.03.27 |
| 申请号 | CN201210326660.X | 申请日期 | 2012.09.05 |
| 申请人 | 索尼公司 | 发明人 | 新田尚 |
| 分类号 | G01N15/14(2006.01)I | 主分类号 | G01N15/14(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 余刚;吴孟秋 |
| 主权项 | 一种微粒测量装置，包括：检测单元，被配置为检测从微粒发出的光；处理单元，具有存储指令的存储器件，所述指令在由所述处理单元执行时，使所述处理单元：（a）计算所检测的光的校正强度值；并（b）基于所述校正强度值生成光谱数据。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||