| 发明名称 | 电介质瓷器组合物的制造方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供能够无损介电特性地降低烧成温度的电介质瓷器组合物的制造方法。本发明的电介质瓷器组合物的制造方法包括下述工序：调制以组成式〔(CaxSr1-x)O〕m〔(TiyZr1-y-zHfz)O2〕(式中，x、y、z、m分别为0.5≦x≦1.0、0.01≦y≦0.10、0<z≦0.20、0.90≦m≦1.04)表示的电介质氧化物的工序，相对于100重量份该电介质氧化物，混合1～10重量份烧结助剂及根据需要使用的以Na2O换算为0.1～0.5重量份的钠化合物的工序，及将得到的混合物烧成的工序；上述烧结助剂在烧结助剂的总量100重量％中，包含以MnO换算为30～69重量％的锰化合物、以Al2O3换算为1～20重量％的氧化铝、以SiO2换算为30～50重量％的氧化硅。 | ||
| 申请公布号 | CN101445369B | 申请公布日期 | 2013.03.27 |
| 申请号 | CN200810178746.6 | 申请日期 | 2008.11.26 |
| 申请人 | TDK株式会社 | 发明人 | 高石哲男;野中智明;佐佐木洋;小田岛努;岩泽健太 |
| 分类号 | C04B35/49(2006.01)I | 主分类号 | C04B35/49(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 熊玉兰;孙秀武 |
| 主权项 | 一种电介质瓷器组合物的制造方法，所述电介质瓷器组合物的制造方法包括下述工序：调制以组成式〔(CaxSr1‑x)O〕m〔(TiyZr1‑y‑zHfz)O2〕表示的电介质氧化物的工序，式中，x、y、z、m分别为0.5≤x≤1.0、0.01≤y≤0.10、0＜z≤0.20、0.90≤m≤1.04，相对于100重量份该电介质氧化物，混合1～10重量份烧结助剂的工序，及将得到的混合物烧成的工序；上述烧结助剂在烧结助剂的总量100重量％中，包含：以MnO换算为55～65重量％的氧化锰、碳酸锰或它们的混合物、以Al2O3换算为2～10重量％的氧化铝、以SiO2换算为30～43重量％的氧化硅，并且该烧结助剂不含玻璃成分。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||