发明名称 |
用于检测坠落的系统和方法 |
摘要 |
本发明提供了一种用于检测电子器件坠落的系统和方法。即使在该电子器件中存在其它运动时,该系统和方法有能力可靠地检测坠落。该坠落检测系统包括多个加速计(102)和处理器(104)。多个加速计(102)提供加速度测量结果给处理器(104),这些测量结果描述了当前电子器件在所有方向上的加速度。该处理器(104)接收该加速度测量结果并比较该加速度测量结果与数值范围,以确定该设备是否正在坠落。而且,该系统和方法可可靠地检测非线性坠落,如当该坠落伴随有设备旋转或由附加外力引起时。为了检测非线性坠落,该处理器(104)比较加速度测量结果的组合与数值范围并进一步确定该加速度测量结果组合的平滑性。 |
申请公布号 |
CN101065674B |
申请公布日期 |
2013.03.27 |
申请号 |
CN200580040911.6 |
申请日期 |
2005.10.25 |
申请人 |
飞思卡尔半导体公司 |
发明人 |
米切尔·A·克利福德;罗德里戈·L·博拉斯;莱蒂西亚·戈麦斯;上田昭博 |
分类号 |
G01P15/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01P15/00(2006.01)I |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 |
代理人 |
黄启行;穆德骏 |
主权项 |
一种用于确定电子器件是否正在坠落的系统,该系统包括:多个加速计,该多个加速计适于测量电子器件在多个方向上的加速度并且产生多个加速度测量结果;和处理器,该处理器适于从该多个加速计接收多个加速度测量结果并将该多个加速度测量结果与第一数值范围进行比较,并且其中,如果该多个加速度测量结果处于该第一数值范围内,则该处理器适于确定正在发生坠落,并且其中,通过计算该多个加速度测量结果的组合和确定如果该多个加速度测量结果的组合落入第二数值范围内并且平滑,则该处理器进一步适于确定是否正在发生非线性坠落。 |
地址 |
美国得克萨斯 |