摘要 |
Flächenlichtquelle (100; 200; 300) für eine Durchlichtbeleuchtungseinrichtung eines Mikroskops zur Betrachtung einer Probe (1) in dem Mikroskop, wobei die Flächenlichtquelle (100; 200; 300) einen plattenförmigen Lichtleiter (110; 210; 310) mit einer unteren Grenzfläche (111), einer oberen Grenzfläche (112) und wenigstens einer Seitenfläche (113–116) sowie wenigstens ein Leuchtmittel (120, 122) aufweist, das so angeordnet ist, dass es Licht (130) aus wenigstens zwei unterschiedlichen Richtungen so über wenigstens eine als Lichteintrittsfläche dienende Seitenfläche in den Lichtleiter (110; 210; 310) einstrahlt, dass dieses aufgrund von Totalreflexion im Lichtleiter (110; 210; 310) propagiert, wobei die Totalreflexion durch ein an der unteren Grenzfläche (111) des Lichtleiters (110; 210; 310) auf einer Kontaktfläche (A) anliegendes Element (140; 440) definiert gestört wird, so dass eine Auskopplung von Licht auf der oberen Grenzfläche (112) des Lichtleiters (110; 210; 310) erfolgt, wobei der Flächeninhalt (A) der Kontaktfläche kleiner als der Flächeninhalt (L2) der unteren Grenzfläche...
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