发明名称 利于金属填充的SDMOS接触孔形状的形成方法
摘要 本发明公开了一种利于金属填充的SDMOS接触孔形状的形成方法,包括如下步骤:步骤1.在接触孔曝光后进行金属层间氧化物的干法刻蚀;步骤2.第一次接触孔刻蚀,为后续与金属的连接形成欧姆接触;步骤3.第一次接触孔离子注入;步骤4.第二次接触孔刻蚀,形成有轻微台阶的倒梯形结构;步骤5.湿法刻蚀回刻,将突出的金属层间氧化物的界面刻蚀回去,并略缩后于硅的界面;步骤6.干法刻蚀倒角,将所有台阶磨平;步骤7.第二次接触孔离子注入,对接触孔底部的离子注入形成肖特基接触,形成利于金属填充的圆角倒梯形的侧壁光滑的接触孔形貌。该方法使金属填充效果良好,从而提高器件的可靠性。
申请公布号 CN102064130B 申请公布日期 2013.03.13
申请号 CN200910201788.1 申请日期 2009.11.12
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 房宝青;张朝阳;李江华;孙效中
分类号 H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L21/768(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 王函
主权项 一种利于金属填充的SDMOS接触孔形状的形成方法,其特征在于,通过以下工艺步骤形成平滑的倒梯形结构的接触孔:步骤1.在接触孔曝光后进行金属层间氧化物的干法刻蚀;步骤2.第一次接触孔刻蚀,为后续与金属的连接形成欧姆接触;步骤3.第一次接触孔离子注入;步骤4.第二次接触孔刻蚀,形成有轻微台阶的倒梯形结构;步骤5.湿法刻蚀回刻,将突出的金属层间氧化物的界面刻蚀回去,并略缩后于硅的界面;步骤6.干法刻蚀倒角,将所有台阶磨平;步骤7.第二次接触孔离子注入,对接触孔底部的离子注入形成肖特基接触。
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