发明名称 | 雷达散射截面测试场背景信号获取方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种雷达散射截面测试场背景信号获取方法,该方法通过第一方位旋转测量方法获取第一雷达散射截面测试场背景信号,通过第二方位旋转测量方法获取第二雷达散射截面测试场背景信号;对第一雷达散射截面测试场背景信号和第二雷达散射截面测试场背景信号进行高分辨率处理,以确定第一雷达散射截面测试场背景信号和第二雷达散射截面测试场背景信号是否存在散射差异;若不存在散射差异,则将第一雷达散射截面测试场背景信号确定为雷达散射截面测试场背景信号,若存在散射差异,则将第二雷达散射截面测试场背景信号确定为雷达散射截面测试场背景信号。该方法能够获取精确的雷达散射截面测试场背景信号。 | ||
申请公布号 | CN102967853A | 申请公布日期 | 2013.03.13 |
申请号 | CN201210483132.5 | 申请日期 | 2012.11.23 |
申请人 | 北京航空航天大学 | 发明人 | 许小剑 |
分类号 | G01S7/41(2006.01)I | 主分类号 | G01S7/41(2006.01)I |
代理机构 | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人 | 刘芳 |
主权项 | 一种雷达散射截面测试场背景信号获取方法,其特征在于,包括:通过第一方位旋转测量方法获取第一雷达散射截面测试场背景信号,通过第二方位旋转测量方法获取第二雷达散射截面测试场背景信号;对所述第一雷达散射截面测试场背景信号和所述第二雷达散射截面测试场背景信号进行高分辨率处理,以确定所述第一雷达散射截面测试场背景信号和所述第二雷达散射截面测试场背景信号是否存在散射差异;若不存在散射差异,则将所述第一雷达散射截面测试场背景信号确定为雷达散射截面测试场背景信号,若存在散射差异,则将所述第二雷达散射截面测试场背景信号确定为雷达散射截面测试场背景信号。 | ||
地址 | 100191 北京市海淀区学院路37号 |