发明名称 |
一种双面制程方法及曝光装置 |
摘要 |
本发明涉及半导体和液晶显示器领域,尤其涉及半导体和液晶显示器制作过程中双面制程方法及曝光装置,即在曝光操作过程中,首先对曝光机内两张光掩模进行设备内的对位处理,再将基板运送到曝光装置的两张光掩模之间,然后进行该基板双面图形的制作。该曝光装置包括两张掩光板,需要加工的基板设置在所述两张掩光板之间;所述两张掩光板上分别设有掩光板对位标识。本发明在基板图案双面制程时,对掩光板预先进行对位操作,保证了基板双面图案的精确,保证了产品的质量。 |
申请公布号 |
CN102968000A |
申请公布日期 |
2013.03.13 |
申请号 |
CN201210477747.7 |
申请日期 |
2012.11.21 |
申请人 |
京东方科技集团股份有限公司 |
发明人 |
王灿;何璇 |
分类号 |
G03F7/20(2006.01)I;G03F9/00(2006.01)I;G03F1/42(2012.01)I |
主分类号 |
G03F7/20(2006.01)I |
代理机构 |
北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
代理人 |
韩国胜 |
主权项 |
一种双面制程方法,其特征在于,在曝光操作过程中,包括以下步骤:S1:对曝光装置内两张掩光板进行对位处理;S2:将基板运送到曝光装置的两张掩光板之间;S3:在所述基板上进行双面图形的曝光操作。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |