发明名称 一种双面制程方法及曝光装置
摘要 本发明涉及半导体和液晶显示器领域,尤其涉及半导体和液晶显示器制作过程中双面制程方法及曝光装置,即在曝光操作过程中,首先对曝光机内两张光掩模进行设备内的对位处理,再将基板运送到曝光装置的两张光掩模之间,然后进行该基板双面图形的制作。该曝光装置包括两张掩光板,需要加工的基板设置在所述两张掩光板之间;所述两张掩光板上分别设有掩光板对位标识。本发明在基板图案双面制程时,对掩光板预先进行对位操作,保证了基板双面图案的精确,保证了产品的质量。
申请公布号 CN102968000A 申请公布日期 2013.03.13
申请号 CN201210477747.7 申请日期 2012.11.21
申请人 京东方科技集团股份有限公司 发明人 王灿;何璇
分类号 G03F7/20(2006.01)I;G03F9/00(2006.01)I;G03F1/42(2012.01)I 主分类号 G03F7/20(2006.01)I
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人 韩国胜
主权项 一种双面制程方法,其特征在于,在曝光操作过程中,包括以下步骤:S1:对曝光装置内两张掩光板进行对位处理;S2:将基板运送到曝光装置的两张掩光板之间;S3:在所述基板上进行双面图形的曝光操作。
地址 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号