发明名称 利用偏振相关损耗特性的光纤光栅温度检测方法
摘要 利用偏振相关损耗特性的光纤光栅温度检测方法,本发明涉及一种使用光纤光栅检测温度变化的方法。用于检测温度变化。它解决了利用反射光波长变化测量待测温度变化时因为反射光波长是一个范围值而很难精确确定反射光波长变化数值的问题。本发明的方法包括下述步骤:一、将入射光入射到光纤光栅后反射,所述光纤光栅为偏振相关的光栅;二、得到的反射光在偏振光栅选定的长轴和短轴方向上出现光谱差异,安置在光纤光栅反射光路中的PDL分析解调仪利用光谱差异得到光纤光栅偏振相关损耗值,三、将PDL分析解调仪得到的偏振相关损耗值的变化,换算成外界环境温度的变化值。
申请公布号 CN102305674B 申请公布日期 2013.03.13
申请号 CN201110211903.0 申请日期 2011.07.27
申请人 哈尔滨师范大学 发明人 励强华;张剑;田春华;高社成
分类号 G01K11/32(2006.01)I 主分类号 G01K11/32(2006.01)I
代理机构 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人 牟永林
主权项 利用偏振相关损耗特性的光纤光栅温度检测方法,其特征在于它的方法包括下述步骤:一、将入射光入射到光纤光栅后反射,所述光纤光栅为偏振相关的光栅;二、得到的反射光在偏振光栅选定的长轴和短轴方向上出现光谱差异,安置在光纤光栅反射光路中的PDL分析解调仪利用光谱差异得到光纤光栅偏振相关损耗值,三、将PDL分析解调仪得到的偏振相关损耗值的变化,换算成被测温度的变化值,所述光纤光栅是切趾FBG。
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