对第一和第二层中自旋系统重聚相位的方法和磁共振设备

摘要

本发明描述了一种用于对第一层（51）中的第一自旋系统和第二层（52）的第二自旋系统重聚相位的方法，包括以下步骤：应用第一高频脉冲来偏转第一层的自旋系统；应用第二高频脉冲来偏转第二层的自旋系统，其中，第二高频脉冲的开始相对于第一高频脉冲的开始在时间上偏移第一差时间段（55），该差时间段比第一高频脉冲的持续时间短；进行重聚相位校正步骤（61）以将校正相位至少施加到两个自旋系统之一；进行探测步骤以在信号探测时间段（63）中分别探测第一和第二自旋系统的磁化的第一和第二信号，其中，这样构造所述重聚相位校正步骤，使得第一和第二相干曲线（53，54）被重聚相位，从而在信号探测时间段（63）中同时进行第一和第二信号的探测。

主权项

一种用于在利用层复用建立MR图像时对具有第一相干曲线（53）的第一层（51）中的第一自旋系统和具有第二相干曲线（54）的第二层（52）的第二自旋系统重聚相位的方法，包括以下步骤：‑应用第一高频脉冲（70，72，74）来偏转第一层的自旋系统，‑应用第二高频脉冲（71，73，75）来偏转第二层的自旋系统，其中，第二高频脉冲（71，73，75）的开始相对于第一高频脉冲（70，72，74）的开始在时间上偏移第一差时间段（55），该差时间段比第一高频脉冲的持续时间短，‑进行重聚相位校正步骤（61）以将校正相位至少施加到两个自旋系统之一，‑进行探测步骤以在信号探测时间段（63）中分别探测第一和第二自旋系统的磁化的第一和第二信号（76，77），其中，这样构造所述重聚相位校正步骤，使得第一和第二相干曲线（53，54）被重聚相位，从而在信号探测时间段（63）中同时进行第一和第二信号（76，77）的探测。