芯片测试方法、自动化测试机和系统

摘要

本发明实施例公开了芯片测试方法、自动化测试机和系统。其中芯片测试方法包括：自动测试机ATE对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试；所述ATE在对所述ATE测试项目测试完成后，向计算机PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息；所述ATE接收所述PC根据所述命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息；所述ATE根据所述返回信息获得芯片测试结果。采用本发明提供的实施例，可以有效降低使用高端ATE设备带来的设备成本、芯片测试的人工成本和时间成本，从而降低整个芯片测试的成本。

主权项

一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：自动测试机ATE对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试；所述ATE在对所述ATE测试项目测试完成后，向计算机PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息；所述ATE接收所述PC根据所述命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息；所述ATE根据所述返回信息获得芯片测试结果。