| 发明名称 | 互补金属氧化物半导体影像传感器测试辅助装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种互补金属氧化物半导体影像传感器测试辅助装置，其特征在于，包括：一探针卡、一铝合金组件、一光源及一控制器；其中所述铝合金组件通过固定压杆安装在所述探针卡上，所述光源安装在所述铝合金组件的上，所述控制器与所述光源相连接。本实用新型互补金属氧化物半导体影像传感器测试辅助装置，光源可以拆卸，易于更换，灵活性好，减低测试成本；并且可以通过增加或减少铝合金件叠加的数量来控制铝合金组件的高度，从而控制光源的焦距，并且铝合金件层层嵌套，有效的实现了本实用新型装置发射光的全封闭不透光。 | ||
| 申请公布号 | CN202793741U | 申请公布日期 | 2013.03.13 |
| 申请号 | CN201220413745.7 | 申请日期 | 2012.08.20 |
| 申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 卞志佳;陈婷 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人 | 丁纪铁 |
| 主权项 | 一种互补金属氧化物半导体影像传感器测试辅助装置，其特征在于，包括：一探针卡、一铝合金组件、一光源及一控制器；其中所述铝合金组件通过固定压杆安装在所述探针卡上，所述光源安装在所述铝合金组件的上，所述控制器与所述光源相连接。 | ||
| 地址 | 201206 上海市浦东新区川桥路1188号 | ||