发明名称 |
测试系统以及测试方法 |
摘要 |
本发明提出一种测试系统以及测试方法,可用于测试双面皆具有信号接脚之待测单元。测试系统包含测试平台以及取放装置。测试平台包含电磁屏蔽腔体以及测试环境模组。电磁屏蔽腔体具有开口。测试环境模组设置于电磁屏蔽腔体内。取放装置系可移动地设置于测试平台上方。取放装置包含电磁屏蔽上盖以及信号传导结构。当取放装置将待测单元放置于测试环境模组上时,电磁屏蔽上盖配合测试平台之电磁屏蔽腔体形成电磁屏蔽空间以隔离待测单元,并且,位于待测单元上表面之信号接脚可透过信号传导结构进而与测试环境模组电性连接。 |
申请公布号 |
TWI388844 |
申请公布日期 |
2013.03.11 |
申请号 |
TW098115260 |
申请日期 |
2009.05.08 |
申请人 |
广达电脑股份有限公司 桃园县龟山乡文化二路188号 |
发明人 |
沈里正 |
分类号 |
G01R1/18 |
主分类号 |
G01R1/18 |
代理机构 |
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代理人 |
祁明辉 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼之2;林素华 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼之2;涂绮玲 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼之2 |
主权项 |
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地址 |
桃园县龟山乡文化二路188号 |