发明名称 测试装置以及测试头
摘要 本发明提供一种测试装置以及测试头,可将母板轻松地安装在测试装置的测试头上。该测试装置包括:测试头,内置有在与被测试元件间收发信号用的针卡;母板,载置在测试头上并将针卡与被测试元件进行电气连接。测试头包括测试头侧引导部和装卸部,其中,测试头侧引导部在测试头的上面,使母板沿与该上面大致平行的预先确定的移动方向可滑动地保持着,装卸部在藉由使母板滑动,而使母板下部所设置的母板侧连接器,移动到针卡的与测试头的上面侧的边上所设置的针卡侧连接器相对抗的位置上之状态下,藉由使母板移动到测试头侧,而将母板侧连接器与对应的针卡侧连接器相连接。
申请公布号 TWI388837 申请公布日期 2013.03.11
申请号 TW095135357 申请日期 2006.09.25
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 齐藤英树;藤本明博
分类号 G01R1/04;G01R31/28 主分类号 G01R1/04
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本