用于电子产品的高加速寿命试验系统及其方法

摘要

本发明公开了一种用于电子产品的高加速寿命试验系统，包括一密闭室和若干待测电子产品，一振动应力测试系统，包括一设置于该密闭室内的振动台，该振动台上固定一安装有该待测电子产品的测试夹具，并在每个待测电子产品内部的印刷电路板上布置有若干个振动应力加速计；一热应力测试系统，包括一与该密闭室的上部连通的冷热源给排装置，在每个该待测电子产品内部的印刷电路板上布置有若干根热电偶；振动应力加速计和热电偶与一测试控制计算机电连接。本发明还公开了一种采用上述用于电子产品的高加速寿命试验系统的方法。本发明可以有效侦测出电子产品的缺陷，提升可靠性，为后期进行高加速应力筛选试验提供应力类型筛选和应力量级设定的依据。

主权项

一种用于电子产品的高加速寿命试验系统，包括一密闭室和若干待测电子产品，其特征在于，所述系统还包括：一振动应力测试系统，包括一设置于所述密闭室内的振动台，所述振动台上固定一安装有所述待测电子产品的测试夹具，并在每个所述待测电子产品内部的印刷电路板上布置有若干个振动应力加速计；一热应力测试系统，包括一与所述密闭室的上部连通的冷热源给排装置，在每个所述待测电子产品内部的印刷电路板上布置有若干根热电偶；所述振动应力加速计和所述热电偶与一测试控制计算机电连接。