发明名称 屏蔽腔体隔腔环境中的低频屏蔽效能测试的天线布置方法
摘要 本发明涉及一种屏蔽腔体隔腔环境中的低频屏蔽效能测试的天线布置方法,其特征是:屏蔽腔体隔腔环境由隔腔壁板将腔体分成第一隔腔和第二隔腔,隔腔壁板安装有隔腔屏蔽门,壁板安装有外屏蔽门,发射天线在第一隔腔,接收天线在第二隔腔,发射天线和接收天线分别位于隔腔屏蔽门的两侧,在隔腔屏蔽门周边和中心选择11个测试点,发射天线电连接信号源,接收天线电连接接收机或频谱分析仪,通过信号源向发射天线发送信号,通过接收机或频谱分析仪接收信号,分别对11个测试点进行屏蔽测量和参考测量。本发明的优点是:计入了屏蔽腔体隔腔壁面对发射天线发射场的反射影响,提高了隔腔环境中屏蔽结构与部件低频屏蔽效能的测试准确性。
申请公布号 CN102955092A 申请公布日期 2013.03.06
申请号 CN201210509123.9 申请日期 2012.11.29
申请人 西安开容电子技术有限责任公司 发明人 邱扬;田锦;许社教;孙建亮
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R29/08(2006.01)I;H01Q1/12(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 代理人 张培勋
主权项 屏蔽腔体隔腔环境中的低频屏蔽效能测试的天线布置方法,其特征是:屏蔽腔体隔腔环境由隔腔壁板将腔体分成第一隔腔和第二隔腔,隔腔壁板安装有隔腔屏蔽门,壁板安装有外屏蔽门,发射天线在第一隔腔,接收天线在第二隔腔,发射天线和接收天线分别位于隔腔屏蔽门的两侧,在隔腔屏蔽门周边和中心选择11个测试点,发射天线电连接信号源,接收天线电连接接收机或频谱分析仪,通过信号源向发射天线发送信号,通过接收机或频谱分析仪接收信号,分别对11个测试点进行屏蔽测量和参考测量。
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