发明名称 一种1553B接口电路单粒子效应检测装置
摘要 本发明公开了一种1553B接口电路单粒子效应检测装置,通过1553B总线与监控主机进行连接,在真实的1553B总线通信环境下,试验人员通过监控主机控制DSP向被测1553B接口电路发送各种测试模式,进行多场景多向量多轮次的单粒子效应测试,通过DSP将被测1553B接口电路在辐照源的照射下的单粒子翻转、单粒子闩锁、单粒子功能中断等各种单粒子效应检测出来,能够完成高低温、真空等不同环境条件下的试验测试,取得可靠、有效的试验数据,从而提高试验数据的可靠性和置信度;本发明通过取样电路可以对1553B电路中协议逻辑电路和收发器的电流等多路电流进行监测和控制,对接收数据和分析结果给出正确有效的反馈控制。
申请公布号 CN102183723B 申请公布日期 2013.03.06
申请号 CN201010624159.2 申请日期 2010.12.31
申请人 北京时代民芯科技有限公司;中国航天科技集团公司第九研究院第七七二研究所 发明人 朱向东;周皓;赵康;李蓉;范隆;郑宏超
分类号 G01R31/30(2006.01)I;H04L12/40(2006.01)I 主分类号 G01R31/30(2006.01)I
代理机构 中国航天科技专利中心 11009 代理人 臧春喜
主权项 一种1553B接口电路单粒子效应检测装置,其特征在于包括:测试电路板、辐射源、电流监测模块、监控主机,辐射源用于对被测1553B接口电路进行辐射,测试电路板由DSP、CPLD、SRAM、FLASH、取样电路组成,被测1553B接口电路连接在测试电路板中,DSP通过CPLD与被测1553B接口电路相连接用于对被测1553B接口电路进行各种测试模式的初始化配置以及接收发生单粒子效应时被测1553B接口电路中寄存器和存储器的状态数据,FLASH中存储各种测试模式的初始化程序,SRAM用于存储发生单粒子效应时被测1553B接口电路中寄存器和存储器的状态数据,取样电路对发生单粒子效应时被测1553B接口电路的闩锁电流进行取样,监控主机通过串口向DSP发送测试模式初始化指令,并对DSP接收的发生单粒子效应时被测1553B接口电路中寄存器和存储器的状态数据进行显示,监控主机通过1553B总线与被测1553B接口电路进行通信用于收发满足1553B标准的消息,电流监测模块对取样电路取样的闩锁电流进行数据采集并由监控主机进行显示。
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