发明名称 |
薄膜晶体管和用于制造薄膜晶体管的方法 |
摘要 |
本发明涉及薄膜晶体管和用于制造薄膜晶体管的方法。该薄膜晶体管包括:栅极电极,其布置在衬底上;半导体层,其由有机半导体形成,并构成沟道区域;栅极绝缘膜,其布置在所述栅极电极与所述半导体层之间;以及一对源极/漏极电极,其电连接至所述半导体层。所述半导体层包括突起部分,所述突起部分在所述半导体层的与所述衬底面对的表面上的、除所述半导体层的端部附近区域之外的内侧区域朝向所述衬底突起。 |
申请公布号 |
CN101931051B |
申请公布日期 |
2013.03.06 |
申请号 |
CN201010205349.0 |
申请日期 |
2010.06.17 |
申请人 |
索尼公司 |
发明人 |
田中正信;石原弘嗣;陈海晶;栗原研一 |
分类号 |
H01L51/05(2006.01)I;H01L51/40(2006.01)I |
主分类号 |
H01L51/05(2006.01)I |
代理机构 |
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 |
代理人 |
王安武;南霆 |
主权项 |
一种薄膜晶体管,包括:栅极电极,其布置在衬底上;半导体层,其由有机半导体形成并构成沟道区域,所述半导体层包括突起部分,所述突起部分在所述半导体层的与所述衬底面对的表面上的、除所述半导体层的端部附近区域之外的内侧区域朝向所述衬底突起;栅极绝缘膜,其布置在所述栅极电极与所述半导体层之间;以及一对源极/漏极电极,其电连接至所述半导体层,其中所述端部附近区域至少包括所述半导体层的与所述源极/漏极区域的接触区域面对的底表面区域。 |
地址 |
日本东京都 |