发明名称 |
一种TMU-RMS测试系统 |
摘要 |
本实用新型适用于集成电路领域,提供了一种TMU-RMS测试系统;包括输入电路单元、比较器电路、均方根直流转换器、模数转换器以及FPGA模块;输入电路单元包括第一低压TMU测量通道控制单元、第二低压TMU测量通道控制单元、第三低压TMU测量通道控制单元、高压TMU测量通道控制单元和RMS测量通道控制单元;比较器电路包括:第一比较器、第二比较器、第三比较器和第四比较器;FPGA模块包括时间数字转换器、控制和匹配单元以及数据地址单元;均方根直流转换器的输入端与RMS测量通道控制单元连接,模数转换器的输入端与均方根直流转换器的输出端连接,模数转换器的输出端与FPGA模块的IO接口连接。 |
申请公布号 |
CN202770959U |
申请公布日期 |
2013.03.06 |
申请号 |
CN201220368785.4 |
申请日期 |
2012.07.27 |
申请人 |
深圳安博电子有限公司 |
发明人 |
方盼 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
深圳中一专利商标事务所 44237 |
代理人 |
张全文 |
主权项 |
一种TMU‑RMS测试系统,其特征在于,包括:输入电路单元、比较器电路、均方根直流转换器、模数转换器以及用于控制所述输入电路单元和比较器电路的FPGA模块;所述输入电路单元包括第一低压TMU测量通道控制单元、第二低压TMU测量通道控制单元、第三低压TMU测量通道控制单元、高压TMU测量通道控制单元和RMS测量通道控制单元;所述比较器电路包括:与所述第一低压TMU测量通道控制单元连接的第一比较器、与所述第二低压TMU测量通道控制单元连接的第二比较器、与所述第三低压TMU测量通道控制单元连接的第三比较器、与所述高压TMU测量通道控制单元连接的第四比较器;所述FPGA模块包括与所述第一比较器、第二比较器、第三比较器和第四比较器连接的时间数字转换器、控制和匹配单元以及与通信总线连接的数据地址单元;所述均方根直流转换器的输入端与所述RMS测量通道控制单元连接,所述模数转换器的输入端与所述均方根直流转换器的输出端连接,所述模数转换器的输出端与所述FPGA模块的IO接口连接。 |
地址 |
518000 广东省深圳市龙岗区布吉镇三联和生工业区2栋 |