发明名称 以化学气相沉积法(CVD)在半导体晶圆上沉积一层之方法及实施该方法之室
摘要 本发明系关于一种以化学气相沉积法(CVD)在一半导体晶圆上沉积一层之方法,其中一沉积气体系通过一顶部以一窗为边界且底部以一平面E为边界之通道来引导,该窗能透过热辐射,待涂覆之该半导体晶圆之表面系位于该平面E中。该沉积气体之引导速度系变化的,其系由于该平面E与该窗之间的距离D系经选取,使得在该窗之一中心区域及该窗之一边缘区域中,在外侧的距离系大于内侧的距离,且在该中心区域与该边缘区域的交界处,该距离D之径向分布的切线与该平面E形成一不小于15°且不大于25°的角度,其中该窗之该中心区域系一覆盖该半导体晶圆之该窗的内部区域,且该窗之该边缘区域系一不覆盖该半导体晶圆之该窗的外部区域。本发明进一步关于一用于以化学气相沉积法(CVD)在一半导体晶圆上沉积一层之室,以及一包含磊晶层之半导体晶圆。
申请公布号 TWI386525 申请公布日期 2013.02.21
申请号 TW098124057 申请日期 2009.07.16
申请人 世创电子材料公司 德国 发明人 柏尼杰 乔格;艾格那 亚罗斯
分类号 C30B25/14 主分类号 C30B25/14
代理机构 代理人 陈翠华 台北市松山区南京东路3段261号6楼
主权项
地址 德国