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发明名称
测试装置、探针卡以及测试方法
摘要
本发明提供一种对被测试元件进行测试的测试装置,包括:多个驱动器,其各别所输出的测试信号供给至被测试元件的同一端子,藉此将多个测试信号所合成的多值信号供给至该端子;以及多个探针销,其与多个驱动器一对一地对应设置着,当对被测试元件进行测试时,各别的探针销的前端部电性连接至被测试元件的同一端子,以将对应的驱动器所输出的信号供给至被测试元件的该端子,且在被测试元件未被测试时,各别的探针销的前端部成为电性开放状态。
申请公布号
TWI386667
申请公布日期
2013.02.21
申请号
TW098100362
申请日期
2009.01.07
申请人
爱德万测试股份有限公司 日本
发明人
有山雄司;驹形重己
分类号
G01R31/28;G01R1/04
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址
日本
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