发明名称 测试装置、探针卡以及测试方法
摘要 本发明提供一种对被测试元件进行测试的测试装置,包括:多个驱动器,其各别所输出的测试信号供给至被测试元件的同一端子,藉此将多个测试信号所合成的多值信号供给至该端子;以及多个探针销,其与多个驱动器一对一地对应设置着,当对被测试元件进行测试时,各别的探针销的前端部电性连接至被测试元件的同一端子,以将对应的驱动器所输出的信号供给至被测试元件的该端子,且在被测试元件未被测试时,各别的探针销的前端部成为电性开放状态。
申请公布号 TWI386667 申请公布日期 2013.02.21
申请号 TW098100362 申请日期 2009.01.07
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 有山雄司;驹形重己
分类号 G01R31/28;G01R1/04 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本