发明名称 被检测体的散射系数的测定方法和测定装置
摘要 本发明提供一种实质上通过标量测定器实施被检测体的散射系数的矢量测定,能减小测定器的规模,并且能减少成本的测定方法和测定装置。准备测定系统,该测定系统具有对被检测体提供信号的信号源(1)、将被检测体的反射波或者透过波作为标量值测定的标量测定器(5、13)、对于被检测体的反射波或者透过波分别叠加预先付与关系值的3个不同的矢量信号的叠加信号系统。对被检测体的反射波或者透过波叠加3个矢量信号,通过标量测定器(5、13)将各叠加信号分别作为标量值测定。使用3个矢量信号的被赋值的关系值,将所测定的3个标量值变换为一个矢量值,取得被检测体的散射系数。
申请公布号 CN101258412B 申请公布日期 2013.02.20
申请号 CN200680031064.1 申请日期 2006.08.23
申请人 株式会社村田制作所 发明人 森太一;神谷岳
分类号 G01R27/06(2006.01)I 主分类号 G01R27/06(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 李香兰
主权项 一种测定方法,进行被检测体的散射系数的矢量测定,其特征在于,包括:第一步骤,准备测定系统,该测定系统具有对所述被检测体提供信号的信号源、将所述被检测体的反射波或者透过波作为标量值测定的标量测定器和对于所述被检测体的反射波或者透过波分别叠加至少3个不同的矢量信号的叠加信号系统;第二步骤,将所述至少3个矢量信号的相互关系作为矢量值赋值;第三步骤,对所述被检测体的反射波或者透过波叠加所述至少3个矢量信号,通过所述标量测定器将各叠加信号分别作为标量值进行测定;和第四步骤,在采用反射系数测定方法的情况下,根据由所述第二步骤中所取得的相互关系EDF1、EDF2、EDF3和所述第三步骤中所测定的至少三个标量值|Γm1|、|Γm2|、|Γm3|所构成的下列两个公式,算出至少一个矢量值ΓT:ΓTx={EDF1y*(|Γm2|2‑|Γm3|2+EDF3x2+EDF3y2‑EDF2x2‑EDF2y2)+EDF2y*(|Γm3|2‑|Γm1|2+EDF1x2+EDF1y2‑EDF3x2‑EDF3y2)+EDF3y*(|Γm1|2‑|Γm2|2+EDF2x2+EDF2y2‑EDF1x2‑EDF1y2)}/{2*(EDF1x EDF3y+EDF2x EDF1y+EDF3x EDF2y‑EDF1x EDF2y‑EDF2x EDF3y‑EDF3x EDF1y)}ΓTy={|Γm1|2‑|Γm2|2+EDF2x2+EDF2y2‑EDF1x2‑EDF1y2‑2ΓTx*(EDF1x‑EDF2x)}/{2*(EDF1y‑EDF2y)}在采用传递系数测定方法的情况下,根据由所述第二步骤中所取得的相互关系EXF1、EXF2、EXF3和所述第三步骤中所测定的至少三个标量值|Tm1|、|Tm2|、|Tm3|所构成的下列两个公式,算出至少一个矢量值TT:TTx={EXF1y*(|Tm2|2‑|Tm3|2+EXF3x2+EXF3y2‑EXF2x2‑EXF2y2)+EXF2y*(|Tm3|2‑|Tm1|2+EXF1x2+EXF1y2‑EXF3x2‑EXF3y2)+EXF3y*(|Tm1|2‑|Tm2|2+EXF2x2+EXF2y2‑EXF1x2‑EXF1y2)}/{2*(EXF1xEXF3y+EXF2xEXF1y+EXF3xEXF2y‑EXF1xEXF2y‑EXF2xEXF3y‑EXF3xEXF1y)}TTy={|Tm1|2‑|Tm2|2+EXF2x2+EXF2y2‑EXF1x2‑EXF1y2‑2TTx*(EXF1x‑EXF2x)}/{2*(EXF1y‑EXF2y)}其中,下标x和y表示矢量值的实数部和虚数部。
地址 日本京都府