太阳能芯片的抗反射层的检测方法及检测装置

摘要

本发明公开一种太阳能芯片的抗反射层的检测方法及检测装置，主要将一白色光源投射在一待测太阳能芯片上，并利用摄像单元对太阳能芯片进行影像的撷取以产生一影像数据，而后再对影像数据的色度进行分析，在分析的过程中可将影像数据区分成多个影像单元，并分别对各个或部分影像单元的色度进行分析，以推算出各个或部分影像单元内的抗反射层的厚度，借此将可以快速完成太阳能芯片上的抗反射层厚度的测量。

主权项

一种太阳能芯片的抗反射层厚度的检测方法，其特征在于，包括有以下步骤：对一太阳能芯片进行影像撷取，并产生一影像数据，其中该太阳能芯片表面设置有一抗反射层；将该影像数据区分成多个影像单元，并取得该影像单元的色度；及由该影像单元的色度推算出该抗反射层的厚度。